01-28

2024

氮化镓表面缺陷检测仪：高效探测半导体材料的瑕疵

氮化镓是一种重要的半导体材料，广泛应用于光电子器件、功率器件和射频器件等领域。然而，氮化镓材料的表面缺陷对器件性能和可靠性有着重要影响。因此，对氮化镓材料表面的缺陷进行准确快速的检测具有重要意义。近年...

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2024

发现SiC缺陷测试的重要性

发现SiC缺陷测试的重要性SiC（碳化硅）是一种具有优异性能的半导体材料，在电力电子、光电子和射频电子等领域有着广泛的应用。然而，SiC晶体中存在着各种缺陷，这些缺陷对器件性能和可靠性产生着重要影响。...

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2024

“探索未来：’lumina AT-AUTO’引领新一代智能汽车”

探索未来：\'lumina AT-AUTO\'引领新一代智能汽车随着科技的不断发展和人们对便利性的追求，智能汽车已经成为汽车行业的热门话题。在这个快节奏的时代，人们对于出行的需求越来越高，而智能汽车作...

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外延表面缺陷检测仪：提升生产质量的利器

外延表面缺陷检测仪：提升生产质量的利器随着科技的不断发展，人们对产品质量的要求也越来越高。在半导体行业，外延片的质量是影响芯片性能的重要因素之一。然而，外延片表面的缺陷往往是难以察觉的，如果不及时检测...

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TTV测试仪：精准测量片材平整度的终极利器

TTV测试仪：精准测量片材平整度的终极利器TTV测试仪是一种用于测量片材平整度的高精度仪器，被广泛应用于半导体和光电子行业。它能够精确测量片材表面的平整度，帮助生产厂商提高产品质量，并减少因片材变形而...

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电阻率测试设备仪器-优质工具助力精准测试

电阻率测试设备仪器-优质工具助力精准测试电阻率测试设备仪器是一种用于测量材料电阻率的工具，通过对材料的电阻与长度、截面积等参数进行测量，可以准确地得到材料的电阻率。这是一项非常重要的测试工作，因为电阻...

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二代半导体缺陷检测仪器：提高生产效率的利器

二代半导体缺陷检测仪器：提高生产效率的利器半导体是现代电子技术的基础，而半导体制造中的缺陷可能导致电子元件的故障，影响产品质量。因此，缺陷检测在半导体制造过程中变得至关重要。二代半导体缺陷检测仪器应运...

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碳化硅（SiC）：领跑下一代高效能材料

碳化硅（SiC）：领跑下一代高效能材料碳化硅（Silicon Carbide，简称SiC）是一种重要的陶瓷材料，具有优异的物理和化学性能，被广泛应用于许多领域。它的硬度比钢高，热导率高，具有很强的耐高...

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“全新 ‘lumina AT2-EFEM’：革新中的智能化设备”

全新 \'lumina AT2-EFEM\'：革新中的智能化设备近年来，人工智能技术的飞速发展已经渗透到了各个行业和领域。在半导体制造工艺中，设备的智能化程度对于提高生产效率和产品质量起着至关重要的作...