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测量项目

FocalSpec CT Series
多功能 光谱共聚焦3D轮廓仪

FocalSpec CT Series

推荐理由:
● 重复精度50纳米;
● 完美适应“透明","高反光" 等复杂表面材料
● 可测量平面度、粗糙度、轮廓台阶等3D尺寸
● 最大扫描成像 视场 300*300mm(兼容12" wafer)
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光谱共聚焦3D轮廓仪

♦ 适用于透明/高反光 等复杂样品表面的扫描成像

 

♦ 最大扫描重复精度可达 50nm

 

♦ 2D平面尺寸,3D轮廓高低台阶,3D平面度面型测量,表面粗糙度  测试,3D-CAD对比功能,线轮廓度,面轮廓度等

 

灵活测试方案,可以做产线自动化订制;实现在线全检。

 

♦ 最大拼接视野 可达300*300mm

 

                             透明玻璃/高反光金属  手机混合类材料3D检测/测量

   平面度/平整度测试/  BGA植绒球

大视野下 纳米级 粗糙度表面分析

KLA-Profilm 3D
纳米级 3D白光干涉成像

KLA-Profilm 3D

推荐理由:
● 亚纳米级别精度下,
● 最大可实现厘米级视野(自动拼接)
● 平面度/平整度/面型测量,涵盖粗糙度,台阶轮廓等测量功能;
(KLA知名品牌,售价低,高性价比)
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MicroProf@半/全自动系列
多功能 全自动晶圆全检仪

MicroProf@半/全自动系列

推荐理由:
● 纳米级别精度下,
● 最大可满足12寸晶圆全幅面测量
● 平面度/平整度/面型测量,涵盖TTV BOW WARP,粗糙度,膜厚等测量功能
(适用实验离线分析 和 产线线上全自动分析)
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MicroProf®AP
全自动光学3D轮廓系统

MicroProf®AP

专业晶圆解决方案
晶圆3D轮廓显微测量
Max 300mm范围 全视野 3D轮廓扫描测量
全自动 实现TTV BOW WARP 粗糙度等测试
MicroProf AP系列 全自动系列
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MicroProf®DI
全自动光学3D轮廓系统

MicroProf®DI

专业晶圆解决方案
晶圆3D轮廓显微测量
Max300mm范围 全视野 3D轮廓扫描测量
全自动 实现TTV BOW WARP 粗糙度等测试
MicroProf DI系列 全自动系列
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MicroProf®FE
全自动光学3D轮廓系统

MicroProf®FE

专业晶圆解决方案
晶圆3D轮廓显微测量
Max 300mm范围 全视野 3D轮廓扫描测量
全自动 实现TTV BOW WARP 粗糙度等测试
MicroProf FE系列 全自动系列
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MicroProf®FS
全自动光学3D轮廓系统

MicroProf®FS

专业晶圆解决方案
晶圆3D轮廓显微测量
Max 300mm范围 全视野 3D轮廓扫描测量
全自动 实现TTV BOW WARP 粗糙度等测试
MicroProf FS系列 全自动系列
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ALICONA InfiniteG5
5轴 空间三维全尺寸显微测量系统

ALICONA InfiniteG5

推荐理由:
● 20纳米级别精度,
● 丰富的旋转平台配件,"全自动" 360度扫描成像
● 适用复杂空间结构尺寸测量要求,且可逆向设计
(典型案例:刀具、喷油嘴,高精密齿轮,涡轮片等)
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ALICONA EdgeMaster
5轴 空间三维全尺寸显微测量系统

ALICONA EdgeMaster

推荐理由:
● 20纳米级别精度,
● 丰富的旋转平台配件,"半自动" 360度扫描成像
● 适用复杂空间结构尺寸测量要求,且可逆向设计
(典型案例:刀具、喷油嘴,高精密齿轮,涡轮片等)
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