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表面缺陷 判别统计
Lumina AT1系列
型 号 :AT1/2
产 地 :美国
采用光学表面分析(OSA)专用技术的自动特征缺陷(DOI)检测与分类系统。
Lumina AT2系列
● 最高分辨率可达 100nm PSL
● 全幅面 扫描 最大视场可达450*450mm
● 软件自动分筛统计”划痕,凹凸点,沾污,颗粒"等缺陷
● 透明样品 可实现空间缺陷点位(夹层缺陷判别)
● 样品无形状要求(不要求圆片)
Lumina AT-Auto系列
型 号 :AT1/2
产 地 :美国
采用光学表面分析(OSA)专用技术的自动特征缺陷(DOI)检测与分类系统。
Lumina AT-EFEM系列
● 最高分辨率可达 100nm PSL
● 全幅面 扫描 最大视场可达"600*600mm"
● 软件自动分筛统计”划痕,凹凸点,沾污,颗粒"等缺陷
● 透明样品 可实现空间缺陷点位(夹层缺陷判别)
● 样品无形状要求(不要求圆片)
Candela CS920
型 号 :Candela CS920
产 地 :美国
采用光学表面分析(OSA)专用技术的自动特征缺陷(DOI)检测与分类系统。
KLA Candela光学表面缺陷分析仪(OSA)可对半导体及光电子材料进行先进的表面检测。Candela系列既能够检测Si、砷化镓、磷化铟等不透明基板,又能对SiC、GaN、蓝宝石和玻璃等透明材料进行检测,成为其制程中品质管理及良率改善的有力工具。
Candela系列采用光学表面分析(OSA)专用技术,可同时测量散射强度、形状变化、表面反射率和相位转移,为特征缺陷(DOI)进行自动侦测与分类。OSA检测技术结合散射测量、椭圆偏光、反射测量与光学形状分析等基本原理,以非破环性方式对Wafer表面的残留异物,表面与表面下缺陷,形状变化和薄膜厚度的均匀性进行检测。Candela系列拥有良好的灵敏度,使用于新产品开发和生产管控,是一套极具成本效益的解决方案。
二、 功能
主要功能
1. 缺陷检测与分类
2. 缺陷分析
3. 薄膜厚度测量
4. 表面粗糙度测量
5. 薄膜应力检测
技术特点
1. 单次扫描中结合四种光学检测方法的单机解决方案,可实现高效的自动化缺陷检测与分离;
2. 对LED材料的缺陷进行自动检测,从而增强衬底的质量管控,迅速确定造成缺陷的根本原因并改进MOCVD品质管控能力;
3. 满足多种工业要求,包括高亮度发光二极管(HBLED),高功率射频电子器件,透明玻璃基板等技术;
4. 在多个半导体材料系统中能更灵敏的检测影响产品良率的缺陷。
5. 自动缺陷分类功能(Auto Defect Classification)
(Particle, Scratch, Pit, Bump, and Stain Detection)
6. 自动生成缺陷mapping。
技术能力
1. 检测缺陷尺寸>0.3μm;
2. 大样品尺寸:8 inch Wafer;
3. 超过30种DOI的缺陷分类。
三、应用案例
1. 透明/非透明材质表面缺陷检测
2. MOCVD外延生长成膜缺陷管控
3. PR膜厚均一性评价
4. Clean制程清洗效果评价
5. Wafer在CMP后表面缺陷分析