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外延表面缺陷检测仪:高效捕捉晶片表面瑕疵,提升生产质量
01-25
2024
外延表面缺陷检测仪:高效捕捉晶片表面瑕疵,提升生产质量
近年来,随着电子产品的迅速发展,晶片成为了现代社会中不可或缺的一部分。然而,由于制造过程中的种种原因,晶片上往往会存在一些表面缺陷,这些缺陷有可能对产品的性能和质量造成严重影响。因此,为了保证生产质量...
“探索智能驾驶的未来:’lumina AT-AUTO’引领汽车科技革新”
01-25
2024
“探索智能驾驶的未来:’lumina AT-AUTO’引领汽车科技革新”
在当今科技飞速发展的时代,智能驾驶技术成为了汽车行业的热门话题。越来越多的汽车制造商开始投入大量资源研发智能驾驶技术,并希望通过这一技术的应用来提升车辆的安全性、舒适性和便利性。在这个巨大的市场中,一...
“卢米纳AT1:照亮未来的灯塔”
01-25
2024
“卢米纳AT1:照亮未来的灯塔”
卢米纳AT1:照亮未来的灯塔近年来,随着科技的飞速发展,人们对照明产品的需求越来越高。卢米纳AT1作为一款具有创新设计和高性能的照明产品,成为了这个时代的亮点。它不仅仅是一盏灯,更是一种照亮未来的灯塔...
碳化硅缺陷检测仪器:细致察觉晶体瑕疵的神奇工具
01-25
2024
碳化硅缺陷检测仪器:细致察觉晶体瑕疵的神奇工具
碳化硅(SiC)作为一种新兴的半导体材料,具有广泛的应用前景。然而,由于制备和加工过程中的各种因素,SiC晶体中常常存在着瑕疵和缺陷。这些缺陷不仅会影响材料的电学和光学性能,还会降低器件的可靠性和寿命...
氮化镓表面缺陷检测仪:新一代高效中文工具
01-25
2024
氮化镓表面缺陷检测仪:新一代高效中文工具
氮化镓表面缺陷检测仪:新一代高效中文工具随着半导体行业的飞速发展,氮化镓材料作为一种重要的宽禁带半导体材料,其在LED照明、电力电子、光电通信等领域具有广阔的应用前景。然而,氮化镓材料的表面缺陷问题一...
SiC缺陷检测仪:精准捕捉硅碳化物的瑕疵问题
01-25
2024
SiC缺陷检测仪:精准捕捉硅碳化物的瑕疵问题
SiC缺陷检测仪:精准捕捉硅碳化物的瑕疵问题随着科技的不断进步,硅碳化物(SiC)作为一种新型半导体材料,在电力电子、汽车电子等领域得到了广泛应用。然而,随着SiC材料的应用范围不断扩大,人们也越来越...
SiC缺陷检测仪:提高SiC材料质量的强力工具
01-25
2024
SiC缺陷检测仪:提高SiC材料质量的强力工具
SiC缺陷检测仪:提高SiC材料质量的强力工具近年来,随着新能源汽车、光伏、电力电子等行业的快速发展,对高性能半导体材料的需求不断增加。碳化硅(SiC)作为一种具有优异性能的半导体材料,正逐渐取代传统...
GaN表面缺陷检测仪器:提升材料质量的利器
01-25
2024
GaN表面缺陷检测仪器:提升材料质量的利器
GaN表面缺陷检测仪器:提升材料质量的利器近年来,随着半导体材料技术的快速发展,氮化镓(GaN)材料作为一种重要的宽禁带半导体材料,被广泛应用于光电子器件、功率器件和微波元件等领域。然而,GaN材料制...
“全新 ‘Lumina AT2-U’:为你照亮未来的灯塔”
01-25
2024
“全新 ‘Lumina AT2-U’:为你照亮未来的灯塔”
全新 \"Lumina AT2-U\":为你照亮未来的灯塔随着科技的不断进步,人们对于生活质量的要求也越来越高。而照明作为人们生活中不可或缺的一部分,也逐渐变得更加重要。为了满足人们对于高品质照明的需...