01-03

2024

线光谱测试仪器：精准测量光谱特性的高级设备

线光谱测试仪器是一种精准测量光谱特性的高级设备，它在现代科研、工业生产及环境监测等领域有着广泛的应用。该仪器通过测量物质与电磁波的相互作用，能够获取物质在不同波长范围内的光谱信息，从而实现对物质成分、...

01-03

2024

碳化硅缺陷检测机构：保障产品质量的关键一环

碳化硅缺陷检测机构：保障产品质量的关键一环碳化硅（SiC）是一种具有广泛应用前景的半导体材料，被广泛应用于电力电子、光电子、汽车电子等领域。然而，由于其高昂的生产成本和复杂的制造工艺，碳化硅制品的质量...

01-03

2024

氮化镓/GaN 缺陷检测技术的研究与应用

氮化镓（GaN）是一种重要的半导体材料，具有优异的电学和光学性能，广泛应用于光电子器件、高功率电子器件和微波器件等领域。然而，GaN材料的生长过程中常常会产生各种缺陷，如位错、点缺陷和面内/面外氧化物...

01-03

2024

SiC缺陷测试：探索碳化硅材料的性能与缺陷

SiC缺陷测试：探索碳化硅材料的性能与缺陷碳化硅（SiC）是一种具有广泛应用前景的材料，具有高熔点、高热导率、高硬度和优异的耐氧化性能。它被广泛应用于电力电子器件、高温传感器、光电子器件等领域。然而，...

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2024

外延表面缺陷检测仪：实现高效、准确的缺陷检测

外延表面缺陷检测仪：实现高效、准确的缺陷检测外延表面缺陷检测仪是一种高效、准确的缺陷检测设备，主要用于半导体材料的表面缺陷检测。随着半导体行业的快速发展，对材料质量的要求越来越高，如何快速准确地检测出...

01-03

2024

《SiC缺陷测试：揭示SiC材料性能的关键问题》

《SiC缺陷测试：揭示SiC材料性能的关键问题》在当今高科技领域中，碳化硅（SiC）材料因其优异的热性能、高电子迁移率和较高的硬度而备受关注。然而，SiC材料的应用受到其晶体缺陷的限制。因此，准确、高...

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2024

硅衬底存在的缺陷类型及其影响分析

硅衬底作为半导体材料中最重要的组成部分之一，在微电子技术的发展中起着举足轻重的作用。然而，正是由于其晶体结构的特殊性质，硅衬底也存在一些缺陷类型，这些缺陷会对器件的性能产生重大影响。本文将对硅衬底存在...

01-02

2024

“探索人工智能时代！’lumina AT-AUTO’带来无限创新”

“探索人工智能时代！\'lumina AT-AUTO\'带来无限创新”人工智能（Artificial Intelligence，简称AI）作为一项前沿科技，正日益深入各个领域，为我们的生活带来了巨大的...

01-02

2024

碳化硅缺陷检测测量方法研究

碳化硅是一种重要的半导体材料，在电子器件制造中被广泛应用。然而，碳化硅材料在生产过程中往往会出现一些缺陷，这些缺陷会对器件的性能和可靠性产生负面影响。因此，对碳化硅材料进行缺陷检测测量方法的研究具有重...