首页 > 新闻中心
- GaN缺陷检测仪器：高效准确的半导体材料质量评估工具
- GaN缺陷检测仪器：高效准确的半导体材料质量评估工具GaN（氮化镓）半导体材料因其优异的电学特性和宽禁带宽度而备受关注。然而，制备过程中难以避免地会产生各种缺陷，对其电学性能和可靠性造成严重影响。因此...
12-30
2023
- “探索全球首款智能驾驶Lumina AT2-AUTO”
- 探索全球首款智能驾驶Lumina AT2-AUTO随着科技的不断发展，智能驾驶技术成为了汽车行业的热门话题。在这个领域中，Lumina公司近期发布了全球首款智能驾驶汽车——Lumina AT2-AUT...
12-29
2023
- 衬底表面缺陷检测仪器：快速、准确、高效的质量保障
- 衬底表面缺陷检测仪器：快速、准确、高效的质量保障衬底表面缺陷是制造业中常见的问题之一，它可能导致产品的质量下降甚至完全失效。为了解决这一问题，现代制造业已经引入了一种新型的仪器：衬底表面缺陷检测仪器。...
12-29
2023
- “探索未知，追寻光明——’lumina AT1’带你踏上全新旅程”
- 《探索未知，追寻光明——\'lumina AT1\'带你踏上全新旅程》近年来，科技的飞速发展让我们不断感受到新奇和惊喜。在这个充满机遇和挑战的时代，人们对于未知的探索充满了无限的好奇心和渴望。而今天，...
12-29
2023
- 砷化镓缺陷检测标准为电子元器件质量保障提供指导
- 砷化镓是一种常用的半导体材料，广泛应用于电子元器件的制造中。然而，由于其特殊的物理性质，砷化镓晶体中常常存在着各种缺陷，这些缺陷会对器件的性能产生严重影响。因此，针对砷化镓缺陷的检测和控制成为了电子元...
12-29
2023
- “炫彩AT2-AUTO：驾驶的光芒”
- 炫彩AT2-AUTO：驾驶的光芒炫彩AT2-AUTO是一款颠覆传统的豪华高性能汽车，它将驾驶者置身于光芒四射的世界中。无论是外观设计还是内部配置，炫彩AT2-AUTO无不展现出其与众不同的风采。首先，...
12-29
2023
- 碳化硅（SiC）：黑色金刚石之谜
- 碳化硅（SiC）：黑色金刚石之谜碳化硅（Silicon Carbide，简称SiC）是一种具有极高硬度和高熔点的陶瓷材料，被誉为黑色金刚石。它由硅和碳两种元素组成，结合了金刚石的硬度和陶瓷的耐热性，广...
12-29
2023
- 碳化硅缺陷检测测量方法简介
- 碳化硅是一种具有广泛应用前景的材料，但由于其特殊的物理和化学性质，常常存在一些缺陷。这些缺陷可能对材料的性能和可靠性产生负面影响，因此在生产过程中需要进行缺陷检测测量。本文将介绍几种常用的碳化硅缺陷检...
12-29
2023
- 氮化镓/GaN 缺陷测试探索
- 氮化镓（GaN）是一种具有广泛应用前景的宽能隙半导体材料。然而，由于其生长过程中会产生各种缺陷，这些缺陷会严重影响其电学和光学性能。因此，缺陷测试成为了研究和应用GaN材料的重要环节。在GaN材料中，...
12-29
2023
