首页 > 新闻中心
- 碳化硅缺陷检测机：高效识别碳化硅缺陷的先进设备
- 碳化硅缺陷检测机：高效识别碳化硅缺陷的先进设备近年来，碳化硅材料由于其优异的热导性、高温稳定性和耐化学腐蚀性，广泛应用于各个领域，如电子、光电、电子封装等。然而，在碳化硅制备和加工过程中，难免会产生一...
10-27
2023
- 新一代TTV测试仪助力高精度尺寸测量
- 新一代TTV测试仪助力高精度尺寸测量近年来，随着科技的不断发展，人们对尺寸测量的精度要求越来越高。而为了满足这一需求，新一代TTV测试仪应运而生。新一代TTV测试仪以其高精度的尺寸测量能力，成为众多行...
10-27
2023
- 化合物半导体缺陷检测设备：技术进步与应用前景
- 化合物半导体材料在现代电子技术中起着至关重要的作用。然而，由于其复杂的晶体结构和制备过程中的不可避免的缺陷，如晶格缺陷、点缺陷等，这些缺陷会严重影响其电子性能和器件性能。因此，研究和检测化合物半导体缺...
10-27
2023
- 碳化硅缺陷检测机：高效精准的半导体质量保障装备
- 碳化硅缺陷检测机：高效精准的半导体质量保障装备碳化硅（SiC）材料作为一种新兴的半导体材料，具有优异的性能和广阔的应用前景。然而，在碳化硅材料的制备过程中，常常会出现一些隐性的缺陷，如晶格缺陷、面内异...
10-27
2023
- 高效便捷的GaN缺陷检测设备助您精准识别问题
- 高效便捷的GaN缺陷检测设备助您精准识别问题近年来，氮化镓（GaN）材料在光电子、能源和通信等领域得到广泛应用。然而，GaN材料中可能存在一些缺陷，这些缺陷可能会导致材料性能下降甚至失效。因此，高效便...
10-27
2023
- TTV测试仪：全面评估平板玻璃的平坦度
- TTV测试仪：全面评估平板玻璃的平坦度TTV测试仪是一种专门用于评估平板玻璃平坦度的仪器。平板玻璃是广泛应用于电子产品、建筑和家居装饰等领域的材料之一，其平坦度对于产品的质量和外观有着重要的影响。因此...
10-26
2023
- “BOW测试设备：实现中文文本分类的利器”
- BOW测试设备：实现中文文本分类的利器在当今信息爆炸的时代，海量的中文文本数据充斥着我们的生活。为了更好地处理这些数据，中文文本分类成为了一项非常重要的任务。为此，我们推出了一款名为BOW测试设备的利...
10-26
2023
- 氮化镓表面缺陷检测设备：革新半导体质量控制的关键技术
- 氮化镓是一种重要的半导体材料，具有许多优异的电学和光学性能，被广泛应用于LED、激光器等光电器件中。然而，氮化镓材料的表面缺陷问题一直困扰着制造商和研究人员，对于提高半导体器件的质量控制和性能提升具有...
10-26
2023
- “探秘’Lumina AT2-U’：突破科技边界的中文奇迹”
- 《探秘\'Lumina AT2-U\'：突破科技边界的中文奇迹》随着科技的飞速发展，人们对于翻译技术的需求逐渐增加。而在这个领域中，Lumina AT2-U无疑是一款令人瞩目的产品。作为一种旨在突破科...
10-26
2023
