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- 《Lumina AT-EFEM》：光芒耀目的中文科技
- 光芒耀目的中文科技在当今科技发展迅猛的时代，中国中文科技正以惊人的速度崛起。作为一个拥有悠久历史和丰富文化底蕴的国家，中国一直致力于推动中文科技的发展与创新。而《Lumina AT-EFEM》则成为了...
10-02
2023
- “卓越表现！’lumina AT2-U’ 中文智能照明系统带来无可比拟的光明体验”
- 卓越表现！\"lumina AT2-U\" 中文智能照明系统带来无可比拟的光明体验随着科技的不断进步和智能化的发展，智能家居产品已经成为我们日常生活中必不可少的一部分。而在智能家居产品中，照明系统一直...
10-02
2023
- GaN缺陷检测设备：提升半导体品质的重要利器
- GaN缺陷检测设备：提升半导体品质的重要利器GaN（氮化镓）材料因其优异的电子特性而广泛应用于高频功率电子器件和光电器件领域。然而，GaN材料在制备过程中常常会出现一些缺陷，如晶格缺陷、界面缺陷和杂质...
10-02
2023
- 化合物半导体缺陷检测设备——精准探测缺陷，助力高效半导体生产
- 化合物半导体缺陷检测设备——精准探测缺陷，助力高效半导体生产随着科技的不断进步，半导体产业发展迅速，成为推动现代化的重要支柱之一。而半导体产品的质量和性能则直接影响到各个领域的发展和应用。为了确保半导...
10-02
2023
- 【新技术】碳化硅缺陷检测仪：实现高效、精准、自动化的瑕疵识别
- 碳化硅（SiC）是一种重要的半导体材料，广泛应用于电力电子、电动汽车和光电领域。然而，由于制造过程中存在各种原因导致的缺陷问题，碳化硅产品的质量控制一直是一个挑战。为了解决这一问题，科研人员开发了一种...
10-02
2023
- 碳化硅缺陷检测设备：创新技术助力质量监控
- 碳化硅是一种具有广泛应用前景的材料，被广泛应用于半导体和光电子等领域。然而，碳化硅制品在生产过程中往往会出现一些缺陷，如气孔、裂纹和晶界偏差等问题，这些缺陷会影响产品的质量和性能。因此，如何及时有效地...
10-02
2023
- 新一代TTV测试仪：全新升级，更精准高效
- 新一代TTV测试仪：全新升级，更精准高效近年来，随着科技的不断发展，电子产品的需求量也在不断增加。而对于电子产品制造商来说，产品的质量控制是至关重要的。而在电子产品制造过程中，TTV测试仪是一个非常重...
10-02
2023
- 碳化硅缺陷检测仪：高效准确识别碳化硅缺陷的利器
- 碳化硅是一种优良的半导体材料，具有高硬度、高熔点和高热稳定性等特点，因此被广泛应用于电力电子、汽车电子、航空航天等领域。然而，碳化硅材料中往往存在一些微小的缺陷，如晶粒边界、气孔、裂纹等，这些缺陷会对...
10-02
2023
- 探究物质光谱特性的线光谱测试仪
- 探究物质光谱特性的线光谱测试仪光谱是物质发出或吸收光线时所产生的色彩分布，是物质的光学特性之一。通过对物质光谱的研究，可以了解物质的组成、结构和性质，对于科学研究和工程应用具有重要意义。线光谱测试仪作...
10-02
2023
