首页 > 新闻中心
- 薄膜厚度的测量方法与应用
- 薄膜厚度的测量方法与应用薄膜是指在一定的基底上形成的具有特定功能的材料层。由于其特殊的物理和化学性质，薄膜在许多领域中得到广泛应用，例如光学、电子、医学等领域。而薄膜的厚度是薄膜性能的重要参数之一，因...
09-12
2023
- 方阻测试设备：准确测量电路中的电阻值，助力电路设计与维护
- 方阻测试设备：准确测量电路中的电阻值，助力电路设计与维护电阻是电路中常见的元件之一，用来限制电流的流动。在电路设计和维护过程中，准确测量电阻值是非常重要的，它可以帮助工程师了解电路的工作状态，诊断故障...
09-12
2023
- 美国卢米纳创新教育集团：助力教育领域变革的先锋
- 美国卢米纳创新教育集团：助力教育领域变革的先锋近年来，教育领域一直是各国政府和社会关注的焦点。教育的质量和效果直接关系到一个国家的未来发展，因此各国纷纷加大对教育的投入和改革力度。在这个背景下，美国卢...
09-12
2023
- 晶圆厚度测试仪：精确测量半导体晶圆厚度的关键装备
- 晶圆厚度测试仪：精确测量半导体晶圆厚度的关键装备晶圆厚度测试仪是半导体行业中非常重要的一种设备，它可以精确地测量半导体晶圆的厚度。晶圆厚度是制造半导体器件的关键参数之一，对于保证器件的性能和质量起着至...
09-12
2023
- 半导体表面缺陷检测标准的重要性及应用
- 半导体表面缺陷检测标准的重要性及应用半导体材料作为电子行业的基础材料之一，其表面缺陷对器件的性能和可靠性有着重要影响。因此，半导体表面缺陷检测标准的制定与应用显得尤为重要。本文将从半导体表面缺陷检测标...
09-12
2023
- 《TTV测试仪：全新科技助力精准测量》
- 《TTV测试仪：全新科技助力精准测量》TTV测试仪是一种全新的科技设备，它能够帮助我们进行精准的测量工作。随着科技的不断进步，各行各业对于测量的要求也越来越高。而传统的测量方法往往存在着一些不足之处，...
09-12
2023
- 电阻率测试设备：精准测量导体电阻率的利器
- 电阻率测试设备：精准测量导体电阻率的利器电阻率测试设备是一种用于测量导体电阻率的重要工具。随着科技的发展，电子产品的普及以及能源的需求不断增长，对于电阻率测试设备的需求也日益增加。在各种电子元器件的研...
09-12
2023
- 《璀璨的AT-EFEM》
- 《璀璨的AT-EFEM》AT-EFEM（Artificial Time Exploration and Future Enhancement Machine），中文名《璀璨的AT-EFEM》，是一款引...
09-12
2023
- 新一代硅衬底缺陷检测设备助力半导体产业升级
- 新一代硅衬底缺陷检测设备助力半导体产业升级随着科技的不断进步，半导体产业在全球范围内得到了迅猛发展。然而，在这个快速发展的行业中，硅衬底缺陷问题一直是制约半导体产业发展的关键因素之一。为了解决这一问题...
09-12
2023
