首页 > 新闻中心
- 晶圆表面形貌测试仪：实现高精度晶圆表面形貌检测
- 晶圆表面形貌测试仪：实现高精度晶圆表面形貌检测晶圆表面形貌测试仪是一种用于检测晶圆表面形貌的高精度设备。它可以对晶圆表面的平整度、粗糙度、平行度等参数进行测量，为晶圆的制造和质量控制提供重要数据支持。...
08-31
2023
- 电阻率测试仪：精准测量电导率的专业工具
- 电阻率测试仪是一种用于测量电导率的专业工具。它能够精准地测量材料的电导率，以帮助工程师和科学家们更好地了解材料的性质和特点。电阻率是描述材料电导能力的物理量，它表示了单位长度和单位截面积内的电阻。电阻...
08-31
2023
- 高效硅衬底缺陷检测设备助力产业发展
- 高效硅衬底缺陷检测设备助力产业发展随着半导体产业的迅猛发展，高效硅衬底缺陷检测设备成为了产业发展的关键技术之一。由于硅衬底在半导体制造过程中起到了关键的支撑作用，因此其质量和缺陷情况对于半导体芯片的性...
08-31
2023
- 薄膜厚度测试：精准测量薄膜厚度的关键技术
- 薄膜厚度测试：精准测量薄膜厚度的关键技术薄膜在各个领域中被广泛应用，如电子设备、光学器件、太阳能电池等。而薄膜的厚度是决定其性能的关键参数之一，因此精准测量薄膜厚度成为了一个重要的问题。本文将介绍几种...
08-31
2023
- 晶圆厚度测试探索及优化
- 晶圆厚度测试探索及优化晶圆厚度是半导体制造过程中的一个重要参数，对于芯片性能和可靠性起着至关重要的作用。因此，对晶圆厚度进行准确的测试和优化是半导体制造领域的一项关键技术。晶圆厚度测试技术的发展经历了...
08-31
2023
- 线光谱测试设备：高精度光谱分析仪助力科研实验
- 线光谱测试设备：高精度光谱分析仪助力科研实验光谱分析是一种非常重要的科学研究手段，它可以帮助科研人员了解物质的组成、结构和性质。在过去的几十年里，科学家们通过不断改进光谱测试设备的性能，使其成为了现代...
08-30
2023
- “卓越亮点：Lumina AT2-U – 中文”
- 卓越亮点：Lumina AT2-U - 中文Lumina AT2-U是一款具有卓越亮点的中文智能设备。它是一款多功能设备，能够满足用户各种需求。现在让我们来详细了解一下它的特点和功能。首先，Lumin...
08-30
2023
- 高效精准的SiC缺陷检测设备助力制造业
- 高效精准的SiC缺陷检测设备助力制造业近年来，随着人工智能、互联网、大数据等技术的快速发展，制造业也在不断迈向智能化和高效化。在这个过程中，高效精准的设备和技术成为了制造企业追求的目标。SiC（碳化硅...
08-30
2023
- ‘光芒AT1-AUTO：激发驾驶激情的绝佳选择’
- 光芒AT1-AUTO：激发驾驶激情的绝佳选择汽车作为现代社会人们生活中不可或缺的一部分，不仅是代步工具，更是展示个人品味和追求的象征。而在众多车型中，光芒AT1-AUTO以其出色的性能和精致的外观设计...
08-30
2023
