首页 > 新闻中心
- 三代化合物半导体缺陷检测设备：实现精准检测的关键技术突破
- 三代化合物半导体缺陷检测设备：实现精准检测的关键技术突破随着科技的进步和需求的增加，半导体设备的研发和生产已经进入了一个全新的阶段。特别是在三代化合物半导体的领域，其在光电子、光伏等领域的广泛应用使得...
08-29
2023
- 晶圆表面形貌测试仪
- 晶圆表面形貌测试仪是一种用于检测晶圆表面形貌的仪器设备。随着半导体行业的快速发展，晶圆表面形貌测试仪在芯片制造过程中起着至关重要的作用。本文将介绍晶圆表面形貌测试仪的原理、应用以及未来发展趋势。晶圆表...
08-29
2023
- 线共焦测试仪：自动化高精度测量线共焦的新工具
- 线共焦测试仪：自动化高精度测量线共焦的新工具近年来，随着科技的不断进步和发展，各个行业对于高精度测量的需求也越来越高。而线共焦测试仪作为一种新型的自动化测量工具，正逐渐受到广大行业的关注和青睐。本文将...
08-29
2023
- 《TTV测试仪：助您精确测量产品平整度的利器》
- TTV测试仪：助您精确测量产品平整度的利器在现代工业生产中，产品平整度是一个非常重要的指标。无论是电子产品、汽车零部件还是建筑材料，都需要保持一定的平整度，以确保产品的质量和性能。为了帮助企业更准确地...
08-29
2023
- 砷化镓缺陷检测设备：高效、精确的半导体质量检测装置
- 砷化镓（GaAs）是一种重要的半导体材料，广泛应用于光电子器件和微波器件等领域。然而，由于砷化镓晶体结构的特殊性，它容易受到各种缺陷的影响，从而降低了器件的性能和可靠性。因此，对砷化镓材料进行高效、精...
08-29
2023
- 晶圆表面形貌测试仪：精准分析半导体晶圆表面质量的利器
- 晶圆表面形貌测试仪：精准分析半导体晶圆表面质量的利器近年来，随着半导体行业的发展和晶体管尺寸的不断缩小，对晶圆表面质量的要求越来越高。为了确保晶圆表面的平整度和质量，晶圆表面形貌测试仪应运而生。它是一...
08-28
2023
- “探索无尽可能的光辉 – ‘lumina AT1-EFEM'”
- 探索无尽可能的光辉 - \'lumina AT1-EFEM\'在现代科技的发展中，光线作为一种重要的能量来源和信息传递媒介，扮演着重要的角色。为了更好地利用光的能量，科学家们不断进行研究和探索，希望找...
08-28
2023
- 砷化镓缺陷检测仪器：高效、精准的半导体质量评估工具
- 砷化镓缺陷检测仪器：高效、精准的半导体质量评估工具砷化镓（GaAs）是一种重要的半导体材料，被广泛应用于光电子学、微电子学和太阳能电池等领域。然而，由于制备过程中的杂质和缺陷问题，GaAs材料的质量评...
08-28
2023
- 膜厚测试的重要性及方法探讨
- 膜厚测试的重要性及方法探讨膜厚测试是一种常用的测量方法，用于确定材料表面的厚度。它在许多领域中都有广泛的应用，如涂料、电子、光学等。膜厚的准确测量对于产品的质量控制和性能评估非常重要。本文将探讨膜厚测...
08-28
2023
