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线共焦测试仪:实现光学系统精准共焦的关键利器
08-23
2023
线共焦测试仪:实现光学系统精准共焦的关键利器
线共焦测试仪:实现光学系统精准共焦的关键利器随着光学显微镜技术的不断发展,共焦显微镜已经成为现代生物医学研究中不可或缺的工具。共焦显微镜通过在样品上聚焦一个激光点,利用光学系统的成像原理,可以获得具有...
方阻测试:测量电路中的电阻,了解电路阻抗特性
08-23
2023
方阻测试:测量电路中的电阻,了解电路阻抗特性
方阻测试是一种用来测量电路中的电阻并了解电路阻抗特性的方法。电阻是电路中最基本的元件之一,它用来控制电流的流动和电压的分布。通过对电路中的电阻进行测试,我们可以了解电路的性能以及可能存在的问题。在方阻...
膜厚测试设备:精准测量薄膜厚度的利器
08-23
2023
膜厚测试设备:精准测量薄膜厚度的利器
膜厚测试设备是一种精准测量薄膜厚度的利器。随着科技的发展和工业的进步,薄膜材料在许多领域被广泛应用,如电子、光电子、光学、航天航空等。而薄膜厚度的精确测量对于材料的研究和应用具有重要意义。薄膜厚度是薄...
电阻率测试设备:用于测量材料导电性能的重要工具
08-23
2023
电阻率测试设备:用于测量材料导电性能的重要工具
电阻率测试设备是用于测量材料导电性能的重要工具。导电性能是材料的重要物理特性之一,它直接影响材料在电子、电力和通信等领域的应用。因此,准确地测量材料的电阻率对于材料的研究和应用具有重要意义。电阻率测试...
碳化硅缺陷检测仪:精准捕捉碳化硅中的瑕疵
08-23
2023
碳化硅缺陷检测仪:精准捕捉碳化硅中的瑕疵
碳化硅缺陷检测仪:精准捕捉碳化硅中的瑕疵碳化硅是一种重要的半导体材料,具有优异的性能和广泛的应用前景。然而,由于其特殊的结构和制备过程中的不确定性因素,碳化硅中常常存在着各种瑕疵。这些瑕疵可能对器件的...
半导体表面缺陷检测标准的研究与应用
08-23
2023
半导体表面缺陷检测标准的研究与应用
半导体表面缺陷检测标准的研究与应用半导体材料是现代电子技术中的重要组成部分,而半导体表面缺陷会直接影响到器件的性能和可靠性。因此,开展半导体表面缺陷检测标准的研究与应用对于保证半导体材料质量以及提高器...
美国卢米纳:在中文世界的崛起
08-23
2023
美国卢米纳:在中文世界的崛起
美国卢米纳:在中文世界的崛起卢米纳(Lumina)是美国一家以提供语言学习和教育解决方案为主的企业。近年来,随着中国的崛起和全球范围内对中文学习的需求增加,卢米纳公司开始在中文世界扩展其业务。中文作为...
晶圆表面缺陷检测仪:高效、准确、可靠的晶圆质量保障
08-23
2023
晶圆表面缺陷检测仪:高效、准确、可靠的晶圆质量保障
晶圆表面缺陷检测仪:高效、准确、可靠的晶圆质量保障晶圆表面缺陷检测是半导体制造过程中不可或缺的环节,其目的是保障晶圆的质量,提高芯片的良率。随着半导体技术的不断发展,晶圆表面缺陷检测仪作为重要的检测工...
方阻测试的原理与应用
08-23
2023
方阻测试的原理与应用
方阻测试的原理与应用方阻测试是一种用来测量电路中的方阻的方法,也被称为电阻测试。方阻是指电路中的电阻值,它是电流通过电路时所遇到的阻力大小。方阻测试可以帮助我们了解电路中的电阻情况,以及排查电路中的故...