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- 线共焦测试
- 线共焦测试是一种常用的光学实验方法，用于确定光学系统的焦点位置。光学系统由透镜、反射镜等光学元件构成，通过线共焦测试可以准确测量焦距，保证光学系统的正常工作。线共焦测试的原理是利用光束经过光学系统后的...
08-20
2023
- SiC缺陷检测设备：高效、准确的半导体材料质量评估技术
- SiC缺陷检测设备：高效、准确的半导体材料质量评估技术随着半导体材料科技的不断发展，SiC材料因其优异的物理和化学性质而受到了广泛的关注和应用。然而，在SiC材料的制备和加工过程中，往往会出现一些缺陷...
08-20
2023
- 衬底厚度测试仪：精准测量工业产品衬底的厚度
- 衬底厚度测试仪：精准测量工业产品衬底的厚度随着工业生产的不断发展，越来越多的产品需要使用衬底来增加强度和稳定性。衬底的厚度是一个重要的参数，直接关系到产品的质量和性能。为了精确测量衬底的厚度，科学家们...
08-20
2023
- 化合物半导体缺陷检测设备：精准检测新一代半导体缺陷的利器
- 化合物半导体缺陷检测设备：精准检测新一代半导体缺陷的利器随着科技的不断进步和半导体产业的迅速发展，化合物半导体材料被广泛应用于电子、光电和光子学领域。然而，由于化合物半导体材料的复杂性和制备过程中的不...
08-20
2023
- 外延厚度测试仪：精准测量外延薄片厚度的高效设备
- 外延厚度测试仪：精准测量外延薄片厚度的高效设备外延技术是一种重要的半导体材料制备方法，广泛应用于光电子、微电子等领域。外延薄片的厚度是影响其性能的关键因素之一，因此准确测量外延薄片厚度对于保证产品质量...
08-20
2023
- 探索未来之光：’lumina AT1-AUTO’ 革新智能驾驶
- 探索未来之光：\'lumina AT1-AUTO\' 革新智能驾驶随着科技的不断发展和人们对出行方式的更高要求，智能驾驶成为了汽车行业的研究热点。\'lumina AT1-AUTO\'作为未来之光公司...
08-20
2023
- 《TTV测试：评估中文的实验结果及影响》
- 《TTV测试：评估中文的实验结果及影响》TTV测试（Translation, Text-to-Speech, and Voice recognition）是一种评估中文语言处理技术的实验方法。本文将探...
08-20
2023
- 碳化硅缺陷检测机：智能化技术助力高精度检测
- 碳化硅缺陷检测机：智能化技术助力高精度检测近年来，碳化硅材料在电子、光电子、航空航天等领域得到了广泛应用。然而，由于碳化硅材料的特殊性和复杂性，其生产过程中常常会出现各种缺陷。为了确保产品的质量和可靠...
08-20
2023
- 晶圆厚度测试：探究半导体制程中的关键工艺参数
- 晶圆厚度测试：探究半导体制程中的关键工艺参数在半导体制程中，晶圆厚度是一个非常重要的工艺参数。晶圆的厚度直接影响着半导体器件的性能和质量。因此，精确地测试晶圆厚度是制程工程师必备的技能之一。本文将探究...
08-20
2023
