首页 > 新闻中心
- 晶圆表面缺陷检测仪:高效检测半导体晶圆表面缺陷的先进设备
- 晶圆表面缺陷检测仪:高效检测半导体晶圆表面缺陷的先进设备随着半导体技术的不断发展和应用的广泛推广,半导体晶圆在电子工业中扮演着至关重要的角色。然而,由于制造过程中的各种原因,晶圆表面往往会出现各种缺陷...

08-09
2023
- “灵动AT2-EFEM:打造智能化中文助手”
- 灵动AT2-EFEM:打造智能化中文助手近年来,随着人工智能技术的快速发展,中文智能助手逐渐成为人们生活中不可或缺的一部分。在这个领域,灵动AT2-EFEM作为一款智能化中文助手,备受瞩目。灵动AT2...

08-09
2023
- GaN表面缺陷检测仪:高效准确的缺陷分析及测量装置
- GaN表面缺陷检测仪:高效准确的缺陷分析及测量装置近年来,氮化镓(GaN)材料在光电子、光通信、功率器件等领域得到了广泛应用。然而,在GaN材料的制备过程中,难以避免地会产生一些表面缺陷,这些缺陷会对...

08-09
2023
- 薄膜厚度测试仪:精确测量薄膜厚度的专业设备
- 薄膜厚度测试仪是一种能够精确测量薄膜厚度的专业设备。随着科技的发展和工业的进步,薄膜在各个领域得到了广泛应用,例如在电子、光学、制药和包装等行业。然而,薄膜的厚度对于产品的质量和性能至关重要,因此需要...

08-09
2023
- TTV测试设备:助力科技创新,提升产品质量
- TTV测试设备:助力科技创新,提升产品质量随着科技的不断进步和创新,各行各业对于产品质量的要求也越来越高。为了满足市场需求,企业不断投入研发和创新,希望能够生产出更加高质量的产品。然而,在产品生产的过...

08-09
2023
- “BOW测试:探索中文文本特征提取的有效性”
- \"BOW测试:探索中文文本特征提取的有效性\"在自然语言处理领域,文本特征提取是一个重要的任务,它可以将文本数据转换为数值型特征向量,从而便于机器学习算法的应用。在英文文本中,常用的特征提取方法包括...

08-09
2023
- 外延厚度测试设备的研发与应用
- 外延厚度是指外延片的表面到衬底边界的距离,是外延片质量的重要指标之一。外延厚度的测量对于外延片的生产和应用具有重要意义,因此研发和应用外延厚度测试设备成为一个热门领域。外延厚度的测试通常需要利用光学测...

08-09
2023
- 高效检测GaAs材料缺陷的先进设备
- 高效检测GaAs材料缺陷的先进设备GaAs(镓砷化物)材料在光电子器件领域具有广泛的应用,但其制备过程中常常伴随着一些缺陷的产生。这些缺陷可能会降低材料的性能,甚至导致器件的故障。因此,高效检测GaA...

08-09
2023
- 全新技术!高效准确的GaN缺陷检测设备助力半导体行业
- 全新技术!高效准确的GaN缺陷检测设备助力半导体行业近年来,半导体行业取得了长足的发展,为各个领域的科技创新提供了强大的支持。而作为半导体材料中的重要组成部分,氮化镓(GaN)在功率电子、光电子等领域...

08-09
2023