首页 > 新闻中心
- SiC缺陷检测设备: 提高SiC材料质量的关键
- SiC缺陷检测设备: 提高SiC材料质量的关键近年来，氮化硅（SiC）材料因其优异的特性在各个领域得到了广泛的应用。然而，作为一种新兴材料，SiC的生产过程中常常会出现一些缺陷，这些缺陷会严重影响Si...
08-08
2023
- 《TTV测试：探索中文世界的新篇章》
- 在不久的将来，随着全球化的不断加深，中文语言的重要性也越来越凸显出来。作为全球最为普及和使用人数最多的语言之一，中文的学习和运用已经成为了一个不可忽视的趋势。而TTV测试则成为了这个探索中文世界的新篇...
08-08
2023
- 新一代SiC缺陷检测机：实现高效率SiC材料质量检测
- 新一代SiC缺陷检测机：实现高效率SiC材料质量检测近年来，碳化硅（Silicon Carbide，简称SiC）材料作为一种新型半导体材料，其具有高热导率、高电子迁移率、高击穿场强等优异性能，在电力电...
08-08
2023
- “BOW测试：探索中文文本处理中的词袋模型”
- BOW测试：探索中文文本处理中的词袋模型词袋模型是自然语言处理领域中的一种常用方法，用于将文本数据转换为数值表示。在中文文本处理中，词袋模型也被广泛应用。本文将探索中文文本处理中的词袋模型，并介绍其在...
08-08
2023
- 新型硅衬底缺陷检测设备研发取得突破
- 新型硅衬底缺陷检测设备研发取得突破近日，我国科学家在新型硅衬底缺陷检测设备的研发方面取得了重大突破。该设备的研发将为半导体产业的发展提供强有力的支持，有望在未来推动我国在该领域的国际竞争力。半导体是现...
08-08
2023
- 电阻率测试仪：准确测量电阻率的必备工具
- 电阻率测试仪：准确测量电阻率的必备工具电阻率测试仪是一种用于测量物质电阻率的仪器。电阻率是物质对电流流动的阻碍程度的度量，是一个十分重要的物理特性。电阻率测试仪的出现，极大地方便了工程师和科研人员在研...
08-08
2023
- 碳化硅缺陷检测仪：提升生产效率的关键利器
- 碳化硅缺陷检测仪是一种能够提升生产效率的关键利器。碳化硅作为一种重要的半导体材料，在电子、光电子、能源等领域有着广泛的应用。然而，由于碳化硅在生产过程中容易产生各种缺陷，如晶格缺陷、界面缺陷、杂质等，...
08-08
2023
- 化合物半导体缺陷检测标准的重要性和应用
- 化合物半导体缺陷检测标准的重要性和应用化合物半导体是一种在电子学和光电子学中广泛应用的材料，如氮化镓、砷化镓和磷化铟等。然而，由于制备过程中存在的各种因素，这些化合物半导体中可能存在着各种缺陷。这些缺...
08-08
2023
- 如何进行膜厚测试？
- 膜厚测试是一种常见的测试方法，广泛应用于物理、化学、材料等领域。通过测量薄膜的厚度，能够判断薄膜的性质和质量，并为相关研究和应用提供数据支持。本文将介绍膜厚测试的原理、方法以及相关设备。膜厚测试的原理...
08-08
2023
