07-15

2023

氮化镓表面缺陷检测仪器：精准发现瑕疵，提升品质

氮化镓是一种重要的半导体材料，被广泛应用于发光二极管、高功率电子器件等领域。然而，由于制备过程中的各种因素，氮化镓晶体往往存在一些缺陷，如晶体结构不完整、杂质掺杂等，这些缺陷会严重影响器件的性能和可靠...

07-15

2023

外延表面缺陷检测标准：提升外延薄膜质量的关键

外延表面缺陷检测标准：提升外延薄膜质量的关键外延薄膜在半导体工业中扮演着重要的角色，它们被广泛应用于光电子器件、集成电路和太阳能电池等领域。外延薄膜的质量直接影响到器件的性能和可靠性，因此检测和控制外...

07-15

2023

亮堂AT1-EFEM：突破创新的照明解决方案

亮堂AT1-EFEM：突破创新的照明解决方案亮堂AT1-EFEM是一款颠覆传统照明概念的创新产品。在当今科技发展迅速的时代，照明行业也在不断演进和创新。亮堂AT1-EFEM以其卓越的性能和创新的设计理...

07-15

2023

硅衬底表面缺陷检测技术研究

硅衬底表面缺陷检测技术研究摘要：硅衬底表面缺陷对于硅片的质量和性能有着重要影响。本文综述了目前常用的硅衬底表面缺陷检测技术，包括光学显微镜、扫描电子显微镜、原子力显微镜和拉曼光谱等。通过对比分析不同技...

07-15

2023

半导体表面缺陷检测方法研究及应用

半导体表面缺陷检测方法研究及应用摘要：半导体材料是现代电子技术的基础，在半导体制备过程中表面缺陷的存在对器件的性能和可靠性有着重要影响。因此，对半导体表面缺陷进行快速、准确的检测成为了半导体制造过程中...

07-15

2023

碳化硅缺陷检测技术的应用与发展

碳化硅是一种具有广泛应用前景的材料，具有很高的热稳定性、化学稳定性和电子特性等优势，因此被广泛应用于半导体电子器件、光电器件、传感器等领域。然而，碳化硅材料在制备过程中常常会出现一些缺陷，如晶界、晶粒...

07-15

2023

三代化合物半导体缺陷检测技术

三代化合物半导体缺陷检测技术是当前半导体行业发展的热点之一，其在半导体器件制备过程中的应用极为重要。本文将介绍三代化合物半导体缺陷检测技术的原理、方法以及未来的发展方向。三代化合物半导体是指由三种或三...

07-15

2023

“探索黑暗中的光芒：’lumina AT2’产品发布”

探索黑暗中的光芒：\'lumina AT2\'产品发布近年来，随着户外探险和夜间活动的兴起，人们对照明设备的需求也越来越高。为了满足这一需求，著名照明品牌\'lumina\'即将发布他们的最新产品：\...

07-15

2023

SiC缺陷检测机：提高SiC材料生产质量的关键

SiC缺陷检测机：提高SiC材料生产质量的关键SiC材料作为一种优质高性能材料，在电力电子、能源、汽车等领域有着广泛应用。然而，由于SiC材料生产过程中存在一系列的制造缺陷，如晶体缺陷、晶粒界面缺陷以...