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- 电阻率测试仪:精准测量电子元器件电阻率的工具
- 电阻率测试仪:精准测量电子元器件电阻率的工具电阻率测试仪是一种用于测量电子元器件电阻率的精确工具。在电子工程领域,电阻率是一个非常重要的参数,它描述了电子元器件对电流的阻碍程度。电阻率测试仪可以帮助工...

09-05
2023
- 膜厚测试技术的研究和应用
- 膜厚测试技术的研究和应用膜厚是指在特定条件下,薄膜材料在某一方向上的厚度。薄膜广泛应用于电子、光学、医疗、食品包装等领域,因此准确测量膜厚对于保证产品质量和性能至关重要。本文将介绍膜厚测试技术的研究和...

09-05
2023
- 碳化硅缺陷检测仪:提升碳化硅产品质量的利器
- 碳化硅作为一种具有优异性能的材料,在电力、电子、化工等领域有着广泛的应用。然而,碳化硅制品的质量问题一直困扰着生产厂家和使用者。为了解决这一难题,碳化硅缺陷检测仪应运而生,成为了提升碳化硅产品质量的利...

09-05
2023
- GaAs表面缺陷检测的方法与应用
- GaAs是一种常用的半导体材料,广泛应用于光电子器件和集成电路中。然而,GaAs材料的表面缺陷对器件性能和可靠性有着重要影响。因此,准确、高效地检测GaAs表面缺陷是非常重要的。本文将介绍GaAs表面...

09-05
2023
- 化合物半导体缺陷检测设备:提高半导体质量的关键
- 化合物半导体缺陷检测设备:提高半导体质量的关键随着科技的不断发展,半导体材料在电子行业中的应用越来越广泛。然而,由于制造过程中的一些不可避免的缺陷,半导体材料的质量仍然是一个重要的挑战。为了解决这个问...

09-05
2023
- 电阻率测试仪:精准测量电子元件电阻率的专业设备
- 电阻率测试仪是一种用于精确测量电子元件电阻率的专业设备。它能够准确测量电子元件的电阻值,帮助工程师们在电路设计和电子元件选择中提供可靠数据支持。电阻是电子元件中最基本的参数之一,它表示了电流通过电子元...

09-04
2023
- 新一代线光谱测试设备助力科研创新
- 新一代线光谱测试设备助力科研创新近年来,科学研究的领域不断扩大,对于测试设备的要求也日益提高。为了满足科研工作者对于高精度测试的需求,新一代线光谱测试设备应运而生。该设备不仅能够提供准确可靠的测试结果...

09-04
2023
- 二代半导体缺陷检测技术的发展和应用现状
- 二代半导体缺陷检测技术的发展和应用现状随着半导体技术的不断发展,二代半导体材料如碳化硅(SiC)和氮化镓(GaN)等在电力电子、光电子和微电子等领域得到广泛应用。然而,二代半导体材料的制备过程中常常会...

09-04
2023
- 《TTV测试仪:提高生产效率的利器》
- 《TTV测试仪:提高生产效率的利器》近年来,随着科技的不断发展和进步,各行各业对于生产效率的要求也越来越高。在半导体行业中,TTV测试仪作为一种重要的测试设备,已经成为了提高生产效率的利器。通过对硅片...

09-04
2023