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- ‘Lumina AT2-EFEM’：高效能中文EFEM系统
- Lumina AT2-EFEM：高效能中文EFEM系统随着科技的发展，人工智能正逐渐成为各行各业的关键技术。在半导体行业中，EFEM（Equipment Front End Module）系统也成为了...
09-04
2023
- 半导体表面缺陷检测标准：一种中文标题
- 半导体表面缺陷检测标准：一种中文标题半导体是现代电子设备中不可或缺的关键材料之一。在半导体制造过程中，表面缺陷的存在可能对器件性能产生负面影响。因此，开发一种有效的半导体表面缺陷检测标准对于保证器件质...
09-04
2023
- 全面评测方阻测试仪的性能与功能
- 全面评测方阻测试仪的性能与功能方阻测试仪是一种常用的电气测量仪器，用于测量电缆、绕组、变压器、发电机等设备的电阻。它可以通过测量电流和电压，计算出被测设备的电阻值，并提供精确的测试结果。为了全面评测方...
09-04
2023
- GaN缺陷检测仪：高效准确的半导体质量评估新利器
- GaN缺陷检测仪：高效准确的半导体质量评估新利器半导体材料在现代电子技术中扮演着重要角色，其中氮化镓（GaN）作为一种广泛应用于LED、功率器件和高频电子设备的半导体材料，其质量评估对于确保设备性能和...
09-04
2023
- 半导体表面缺陷检测标准
- 半导体是现代电子技术中不可或缺的元件，其表面的缺陷对其性能有着重要的影响。因此，制定半导体表面缺陷检测标准对于保证半导体产品质量具有重要意义。半导体表面缺陷检测标准是指对半导体表面缺陷进行检测时所采用...
09-04
2023
- 三代化合物半导体缺陷检测设备：革新升级智能搜寻分析能力
- 三代化合物半导体缺陷检测设备：革新升级智能搜寻分析能力随着科技的不断进步，半导体行业也在不断发展。作为半导体领域中重要的研究和开发方向之一，三代化合物半导体材料具有优异的性能和广泛的应用前景。然而，由...
09-04
2023
- 什么是方阻测试及其应用领域？
- 方阻测试是一种用于测量材料或设备对电流流动的阻力的方法。这种测试方法广泛应用于材料科学、电子工程、电力系统等领域。方阻测试的原理是通过施加电压并测量电流，来计算出材料或设备的阻力值，从而评估其性能和质...
09-04
2023
- 外延厚度测试仪的研发与应用探索
- 外延厚度测试仪的研发与应用探索外延厚度测试仪是一种用于测量晶体外延片厚度的精密仪器。随着半导体技术的不断进步，外延片的厚度对于器件的性能起着至关重要的影响。因此，开发一种可靠、高精度的外延厚度测试仪对...
09-04
2023
- 晶圆厚度测试仪：精准测量半导体晶圆厚度的先进设备
- 晶圆厚度测试仪：精准测量半导体晶圆厚度的先进设备晶圆厚度是半导体制造过程中一个非常重要的参数，它直接影响着半导体器件的性能和质量。为了实现精准测量晶圆厚度的需求，晶圆厚度测试仪应运而生。晶圆厚度测试仪...
09-04
2023
