首页 > 新闻中心
- 晶圆厚度测试：从薄到厚，精准测量晶圆的厚度
- 晶圆厚度测试：从薄到厚，精准测量晶圆的厚度晶圆是半导体制造中不可或缺的重要元件，其厚度的精准性对于半导体工艺的控制至关重要。因此，晶圆厚度测试成为了半导体制造过程中的一项重要工作。本文将从薄到厚，介绍...
08-13
2023
- 线光谱测试：发现物质的光之奥秘
- 线光谱测试：发现物质的光之奥秘线光谱测试是一项重要的科学实验，能够帮助我们揭示物质的光之奥秘。通过观察物质发出的光线的波长和强度变化，我们可以了解到物质的组成和性质，从而为各个领域的科学研究和应用提供...
08-13
2023
- 线光谱测试：探索光谱领域的中文应用研究
- 线光谱测试：探索光谱领域的中文应用研究光谱是物质与电磁辐射相互作用的结果，通过对光谱的研究，我们可以了解物质的成分、结构和性质。线光谱测试是一种常见的光谱分析方法，通过测量物质在特定波长范围内的吸收、...
08-13
2023
- 优质线光谱测试仪：精准测量细微光谱波段的专业设备
- 优质线光谱测试仪：精准测量细微光谱波段的专业设备光谱测试仪是一种用于测量物质发出或吸收的光谱的仪器。而在光谱测试仪的众多种类中，优质线光谱测试仪以其精准测量细微光谱波段的能力而备受推崇。优质线光谱测试...
08-13
2023
- 《TTV测试设备：探索新一代中文技术的突破之路》
- 《TTV测试设备：探索新一代中文技术的突破之路》近年来，中文技术的发展取得了巨大的突破，为社会的进步和发展提供了有力的支撑。在这一背景下，TTV测试设备成为了中文技术领域的重要一环，为中文技术的研究和...
08-13
2023
- 薄膜厚度测试仪：精准测量薄膜厚度，助力工业生产
- 薄膜厚度测试仪：精准测量薄膜厚度，助力工业生产在现代工业生产中，薄膜广泛应用于各个领域，包括电子、光学、医疗等行业。而薄膜的厚度是决定其性能和质量的重要因素之一。因此，准确测量薄膜厚度对于工业生产来说...
08-13
2023
- 《Lumina AT1-EFEM》：闪耀的光芒照亮未来
- 《Lumina AT1-EFEM》：闪耀的光芒照亮未来近年来，科技的飞速发展为人类带来了前所未有的便利和机遇。特别是在能源领域，人们对于可再生能源的需求越来越高。为了满足这一需求，Lumina公司推出...
08-13
2023
- 碳化硅缺陷检测仪：助力高效生产，提升产品质量
- 碳化硅缺陷检测仪：助力高效生产，提升产品质量碳化硅是一种具有优良性能的新型材料，广泛应用于电力电子、光电子、通信和汽车等领域。然而，由于制造过程中可能存在的缺陷，产生的碳化硅产品质量可能会受到影响，进...
08-12
2023
- 晶圆表面形貌测试仪：精确分析微纳米级晶圆表面特征的高精度设备
- 晶圆表面形貌测试仪：精确分析微纳米级晶圆表面特征的高精度设备晶圆表面形貌测试仪是一种专门用于分析微纳米级晶圆表面特征的高精度设备。它可以对晶圆表面的形貌进行精确测量和分析，帮助科研人员和工程师更好地了...
08-12
2023
