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- 美国Lumina：开启中文市场的新机遇
- 美国Lumina：开启中文市场的新机遇近年来，随着中国经济的快速发展和人们生活水平的提高，中文市场吸引了越来越多的国际企业的目光。作为全球领先的教育公司，美国Lumina也看到了这一巨大的商机，并着手...
08-01
2023
- “BOW测试设备：高效评估中文文本特征的利器”
- BOW测试设备：高效评估中文文本特征的利器近年来，随着人工智能技术的发展，文本特征的提取和分析成为了自然语言处理领域的重要研究方向之一。在中文文本处理中，如何高效评估文本特征的有效性和准确性成为了研究...
08-01
2023
- 砷化镓表面缺陷检测技术的研究与应用
- 砷化镓（GaAs）作为一种重要的半导体材料，在电子器件和光电子器件领域具有广泛的应用。然而，由于制备和加工过程中的不完美，砷化镓材料表面常常存在各种缺陷，这些缺陷会对器件性能产生负面影响。因此，砷化镓...
07-31
2023
- 晶圆表面形貌测试设备：高精度测量技术助力半导体工业发展
- 晶圆表面形貌测试设备：高精度测量技术助力半导体工业发展随着科技的不断发展，半导体技术在各个领域的应用越来越广泛。而作为半导体加工的基础之一的晶圆制造，对表面形貌的测试要求也越来越高。为了满足这一需求，...
07-31
2023
- 膜厚测试仪：精准测量薄膜厚度的专业设备
- 膜厚测试仪：精准测量薄膜厚度的专业设备膜厚测试仪是一种专业设备，用于测量薄膜的厚度。薄膜广泛应用于各个领域，如电子、光学、化工等。薄膜的厚度是其性能和质量的重要指标之一，因此准确测量薄膜厚度对于产品质...
07-31
2023
- 衬底表面缺陷检测设备的可靠厂家推荐
- 衬底表面缺陷检测设备是电子行业中不可或缺的重要设备，其主要用途是检测半导体芯片、平板显示器、光伏电池等产品在制造过程中的表面缺陷。目前市场上存在着众多的衬底表面缺陷检测设备厂家，本文将为大家推荐几家可...
07-31
2023
- 外延厚度测试的重要性和方法
- 外延厚度测试的重要性和方法外延厚度是指半导体外延层的厚度，是半导体材料生长过程中一个非常重要的性能指标。外延厚度的准确测量对于半导体器件的研发和生产具有重要意义。本文将介绍外延厚度测试的重要性以及常用...
07-31
2023
- 化合物半导体表面缺陷的无损检测技术研究
- 化合物半导体表面缺陷的无损检测技术研究摘要：化合物半导体材料的表面缺陷会对器件性能产生重要影响。因此，开发一种高效可靠的无损检测技术以评估化合物半导体表面缺陷的情况至关重要。本文综述了当前常用的化合物...
07-31
2023
- 三代化合物半导体表面缺陷的快速检测
- 三代化合物半导体表面缺陷的快速检测摘要：随着三代化合物半导体的广泛应用，表面缺陷对器件性能产生的影响愈发重要。本文针对三代化合物半导体表面缺陷的快速检测进行了综述。首先介绍了三代化合物半导体的特点和应...
07-31
2023
