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- 碳化硅表面缺陷的自动检测方法
- 碳化硅是一种重要的半导体材料，广泛应用于电力电子、光电子和高温器件等领域。然而，碳化硅晶体的表面缺陷对器件性能和可靠性造成了严重影响，因此对碳化硅表面缺陷进行准确、高效的自动检测具有重要意义。本文将介...
07-31
2023
- 衬底厚度测试探索：究竟有多重要？
- 衬底厚度测试探索：究竟有多重要？在半导体制造过程中，衬底厚度是一个至关重要的参数。衬底厚度是指在晶片加工过程中，晶圆表面与晶粒内部之间的距离。它直接影响着衬底材料的性能和最终产品的质量。因此，衬底厚度...
07-31
2023
- 砷化镓缺陷检测仪器：提高材料质量，提升生产效率
- 砷化镓（Gallium Arsenide，简称GaAs）是一种重要的半导体材料，具有优良的电子特性，广泛应用于光电子、通信、微波电子等领域。然而，在GaAs材料生产过程中，不可避免地会产生一些缺陷，如...
07-31
2023
- 硅衬底缺陷检测方法：一种基于图像处理的新型技术
- 硅衬底缺陷检测方法：一种基于图像处理的新型技术近年来，随着集成电路产业的快速发展，对硅衬底质量的要求也越来越高。硅衬底是集成电路的基础材料，其中的缺陷会直接影响到电路的性能和可靠性。因此，快速、准确地...
07-31
2023
- 半导体表面缺陷检测标准：准确评估半导体表面缺陷的中文标准
- 半导体表面缺陷是评估半导体质量和性能的重要指标之一。在半导体制造过程中，表面缺陷可能会对器件的工作稳定性和可靠性产生严重影响。因此，制定准确的半导体表面缺陷检测标准对于保证半导体产品质量至关重要。半导...
07-30
2023
- TTV测试设备：提升质量控制的利器
- TTV测试设备：提升质量控制的利器在现代工业生产中，质量控制是一个至关重要的环节。无论是电子产品、汽车零部件还是其他工业产品，都需要经过严格的质量控制流程，以确保产品的可靠性和稳定性。而TTV测试设备...
07-30
2023
- 新一代SiC缺陷检测机：革命性技术助力高效SiC质量检验
- 新一代SiC缺陷检测机：革命性技术助力高效SiC质量检验近年来，随着半导体材料技术的不断发展，SiC（碳化硅）作为一种新兴的材料已被广泛应用于电力电子设备、汽车电子等领域。然而，由于其生产过程中往往会...
07-30
2023
- 《TTV测试仪：检测光学元件平面度的专业工具》
- 《TTV测试仪：检测光学元件平面度的专业工具》光学元件的平面度是衡量其表面平整度的重要指标之一，对于光学系统的性能和精度有着重要影响。为了保证光学元件的质量，科学家们不断努力寻找更加精确和高效的检测工...
07-30
2023
- 新一代半导体缺陷检测设备
- 新一代半导体缺陷检测设备近年来，随着半导体技术的飞速发展，半导体行业在全球范围内得到了广泛应用。然而，由于半导体制造过程中存在着各种各样的缺陷，这些缺陷可能导致产品性能下降甚至失效。因此，对半导体缺陷...
07-30
2023
